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      LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀

      • 產(chǎn)品型號:
      • 更新時間:2024-12-07

      簡要描述:LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術(shù),操作簡便。還包括通過解鎖代碼進(jìn)行快速現(xiàn)場升級的選項(xiàng)。

      產(chǎn)品詳情
      品牌其他品牌產(chǎn)地進(jìn)口
      產(chǎn)品新舊全新
      KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術(shù),操作簡便。還包括通過解鎖代碼進(jìn)行快速現(xiàn)場升級的選項(xiàng)。
      系統(tǒng)可定制的涂層測量

      KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042用于測量磁性基材上的非磁性涂層的厚度(根據(jù)DIN EN ISO 2178)并通過渦流法測量非磁性導(dǎo)電基材上的非導(dǎo)電涂層的厚度(根據(jù)DIN EN ISO 2360)。

      LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042應(yīng)用
      可靠的技術(shù)與舒適的工具相結(jié)合,例如將厚度值顯示為模擬指針,類似于Windows的文件管理以及10種不同語言的免費(fèi)選擇,可以滿足有抱負(fù)的用戶的所有愿望。

      LEPTOSKOP 2042是一款經(jīng)濟(jì)型儀器,電池使用壽命超過100小時。

      該儀器會記錄操作時間和測量次數(shù),因此這些重要參數(shù)本身可用于正確跟蹤測試設(shè)備。

      供貨范圍內(nèi)包括彩色橡膠保護(hù)套,并具有防滑保護(hù)功能,可在工業(yè)環(huán)境中保護(hù)儀器。

      LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀

      LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042特點(diǎn):
      大型圖形顯示屏48毫米x 24毫米,帶照明
      校準(zhǔn)選項(xiàng):
      出廠前已校準(zhǔn),可立即進(jìn)行測量
      在未知涂層上校準(zhǔn)*
      零位校準(zhǔn)*
      在未涂覆的基材上進(jìn)行一次和多箔校準(zhǔn)*
      校準(zhǔn)涂層材料*
      校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以單獨(dú)存儲在單獨(dú)的校準(zhǔn)文件中,也可以從那里重新加載。

      可選擇的顯示模式,以最佳地適應(yīng)測量任務(wù)*
      輸入和監(jiān)控限額*
      在Windows©下可以輕松管理文件來存儲讀數(shù)*
      可與PC軟件 EasyExport和 iCom一起使用
      統(tǒng)計*
      統(tǒng)計評估多達(dá)999個讀數(shù)
      最小,最大,平均值,讀數(shù)數(shù)量,標(biāo)準(zhǔn)偏差,限值監(jiān)控
      局部厚度和平均涂層厚度(DIN EN ISO 2808)
      在線統(tǒng)計,所有統(tǒng)計值一目了然

      KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042選型:
      LEPTOSKOP 2042具有三種配置級別:
      基本 -質(zhì)量可靠的基本功能
      統(tǒng)計 -附加統(tǒng)計評估
      統(tǒng)計和數(shù)據(jù)存儲 -統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲

      如果需要,可以隨時將量規(guī)升級到高級和/或?qū)I(yè)級別。升級過程通過代碼執(zhí)行,可以在現(xiàn)場輸入代碼以解鎖模塊“統(tǒng)計”和/或“統(tǒng)計和數(shù)據(jù)存儲”。如果要為新的測量需求添加功能,則無需將儀表返回KARL DEUTSCH進(jìn)行升級或購買新儀表。


       KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042技術(shù)數(shù)據(jù)

      串行接口 用于將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉S232或USB
      電源 通過電池,USB或電源裝置
      測量范圍 0-20000 µm(取決于探頭)
      測量率 每秒高達(dá)2個讀數(shù)
      存儲 最高 9999個讀數(shù)(最多140個文件)
      測量不確定度
      (校準(zhǔn)后)
      涂層厚度<100 µm:讀數(shù)的1%+/- 1 µm
      涂層厚度> 100 µm:讀數(shù)的1.0.3%+/- 1 µm
      涂層厚度> 1000 µm:讀數(shù)的3..5% /-10 µm
      涂層厚度> 10000 µm:讀數(shù)的5%+ /- 100 µm

       KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042附件

      • 測試塊和校準(zhǔn)箔

      • 探頭定位裝置 -適用于所有微型探頭

      • 定位輔助 -適用于所有微型探針

      • PC軟件iCom-用于數(shù)據(jù)傳輸和整個目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理

      • PC軟件EasyExport-用于將單個讀數(shù)或完整文件輕松導(dǎo)出到Windows©程序


      SAG:LEPTOSKOP 2042,LEPTOSKOP2042涂層測厚儀,KARL DEUTSCH涂層測厚儀,KARL DEUTSCH LEPTOSKOP2042,涂層測厚儀

       

       
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