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      QRM QRM-MicroBar分辨率測試卡

      • 產(chǎn)品型號:
      • 更新時間:2024-06-17

      簡要描述:QRM QRM-MicroBar分辨率測試卡
      內(nèi)含兩個3mm×3mm硅質(zhì)芯片,分別水平和垂直安裝,芯片上刻有條狀(溝槽)和點(diǎn)狀圖樣,度規(guī)格為:1μm,2μm,3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,8μm,9μm,10μm.

      產(chǎn)品詳情
      品牌其他品牌產(chǎn)地進(jìn)口
      產(chǎn)品新舊全新自動化程度全自動

      QRM QRM-MicroBar測試卡,QRM-MicroBar測試模體,Micro-CT高分辨率測試卡

      型號:QRM-MicroBar 類別: 質(zhì)控模體 品牌:德國QRM pdf資料: QRM QRM-MicroBar測試卡,QRM-MicroBar測試模體,Micro-CT高分辨率測試卡.pdf


      QRM QRM-MicroBar測試卡,QRM-MicroBar測試模體,Micro-CT高分辨率測試卡詳細(xì)介紹:

      QRM QRM-MicroBar測試卡,QRM-MicroBar測試模體,Micro-CT高分辨率測試卡 技術(shù)參數(shù)
      內(nèi)含兩個3mm×3mm硅質(zhì)芯片,分別水平和垂直安裝,芯片上刻有條狀(溝槽)和點(diǎn)狀圖樣,度規(guī)格為:1μm,2μm,3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,8μm,9μm,10μm.

      作為我們流行的MicroCT-BarPattern-Phantom的進(jìn)一步發(fā)展,我們現(xiàn)在推出BarPattern-NANO!

      QRM QRM-MicroBar測試卡,QRM-MicroBar測試模體,Micro-CT高分辨率測試卡易于使用的幻像提供了兩個硅芯片,它們垂直對齊并放置在堅固的塑料支架上。
      兩種3 x 3mm2的芯片都具有數(shù)個線和點(diǎn)圖案,分別代表線和點(diǎn)的寬度為1至10 µm。

      此外,在芯片上還放置了鋸齒狀邊緣(L)和西門子星(放射狀星)。
      芯片上的不同結(jié)構(gòu)以這種方式布置在芯片上,從而可以通過一次測量在圖像/芯片的中心以及外圍區(qū)域中確定空間分辨率。

      芯片上的線型和點(diǎn)型:3 x 3mm2
      結(jié)構(gòu)的深度在5和15 µm之間變化。

      QRM QRM-MicroBar測試卡,QRM-MicroBar測試模體,Micro-CT高分辨率測試卡技術(shù)指標(biāo)
      基礎(chǔ)材料:    固體塑料(切屑放在空氣中的支撐件上-壁厚> 0.3 mm)
      直徑幻影:    5.2毫米
      高度:    19毫米
      硅芯片的措施:    3 x 3 x 0.66毫米
      芯片上的結(jié)構(gòu)(分辨率):    分別為1至10 µm。500至50 LP / mm
      芯片材質(zhì):    硅
      圖案對比    硅/空氣






      As a further development of our popular MicroCT-BarPattern-Phantom we now present the BarPattern-NANO!

      The easy and convenient to use phantom provides two silicon chips, perpendicularly aligned and placed on a solid plastic support.
      Both 3 x 3 mm2 chips exhibit several line and point pattern representing lines and points of 1 to 10 µm width.

      In addition a slented edge (L) and a Siemens-star (actinomorphic star) are also placed on the chip.
      The different structures on the chip are arranged in such a way over the chip, that spatial resolution can be determined in the center as well as in the peripheral regions of the image/chip with a single measurement.

      Line- and Pointpattern on the chip: 3 x 3 mm2
      The depth of the structures varies within 5 and 15 µm.

      Specifications
      Base material:    solid plastic (chips placed on support in air -> 0.3 mm wall thickness)
      Diameter Phantom:    5.2 mm
      Height:    19 mm
      measures of silicon chip:    3 x 3 x 0.66 mm
      structures on the chip (resolution):    1 to 10 µm, resp. 500 to 50 LP/mm
      Material of chip:    silicon
      Contrast of pattern    silicon / air

      SAG: QRM-MicroBar,QRM-MicroBar測試卡,Micro-CT高分辨率測試卡,QRM-MicroBar測試模體,QRM分辨率測試卡,分辨率測試卡


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